المجهر والتصوير
المجهر الإلكتروني الماسح ZEISS EVO 10 مع كاشف EDS من أكسفورد
تصوير مورفولوجيا السطح بمقياس النانومتر مع رسم خرائط عنصرية متزامنة بواسطة مطيافية الأشعة السينية المشتتة للطاقة.
باختصار
تصوير مورفولوجيا السطح بمقياس النانومتر مع رسم خرائط عنصرية متزامنة بواسطة مطيافية الأشعة السينية المشتتة للطاقة. يُعد ZEISS EVO 10 مجهراً إلكترونياً ماسحاً متعدد الاستخدامات بفتيلة تنجستن، يعمل في وضعي التفريغ العالي والضغط المتغير. يمكن فحص البوليمرات والسيراميك والعينات البيولوجية غير الموصلة في وضع الضغط المتغير دون طلاء موصل.
- مصدر الإلكترونات
- فتيلة تنجستن
- جهد التسريع
- 0.2 – 30 كيلوفولت
- الدقة
- 3 نانومتر عند 30 كيلوفولت (SE)
الخدمات المتاحة على هذا الجهاز
التصوير والتحليل الدقيق بتقنية SEM/EDS
ابتداءً من 170 €3–7 يوم عملاطلب هذه الخدمةتفاصيل الخدمةتحليل الأعطال واستشارات المواد
ابتداءً من 775 €7–14 يوم عملاطلب هذه الخدمةتفاصيل الخدمةتدريب مشغّلي الأجهزة
ابتداءً من 420 €14–30 يوم عملاطلب هذه الخدمةتفاصيل الخدمة
نظرة عامة
يُعد ZEISS EVO 10 مجهراً إلكترونياً ماسحاً متعدد الاستخدامات بفتيلة تنجستن، يعمل في وضعي التفريغ العالي والضغط المتغير. يمكن فحص البوليمرات والسيراميك والعينات البيولوجية غير الموصلة في وضع الضغط المتغير دون طلاء موصل. ويكمّل كاشف EDS المدمج من Oxford Instruments بيانات التصوير بمعلومات التركيب الكيميائي عبر التحليل النقطي والمسح الخطي ورسم الخرائط العنصرية. وقد جرى تهيئة النظام لتقديم نتائج قابلة للتكرار والتتبع في مراقبة الجودة وتحليل الأعطال وبرامج البحث والتطوير.
مبدأ القياس
القدرات
التصوير بالإلكترونات الثانوية (SE) والإلكترونات المرتدة (BSE)
وضع الضغط المتغير للعينات غير الموصلة بدون طلاء
تحليل EDS النقطي والخطي ورسم الخرائط (العناصر من B إلى U)
قياسات حجم الجسيمات والمسامية وسماكة الطبقات
إعداد تقارير تحليل أسطح الكسر والأعطال
العينات المناسبة
المعادن والسبائك
السيراميك والمركبات
البوليمرات والطلاءات
المساحيق والمواد النانوية
العينات البيولوجية والمجففة
المواصفات التقنية
| مصدر الإلكترونات | فتيلة تنجستن |
|---|---|
| جهد التسريع | 0.2 – 30 كيلوفولت |
| الدقة | 3 نانومتر عند 30 كيلوفولت (SE) |
| التكبير | 5× – 1,000,000× |
| أوضاع التفريغ | تفريغ عالٍ / ضغط متغير (10–400 باسكال) |
| كاشف EDS | Oxford Instruments SDD |
الخدمات المتاحة على هذا الجهاز
التصوير والتحليل الدقيق بتقنية SEM/EDS
ابتداءً من 170 €3–7 يوم عملاطلب هذه الخدمةتفاصيل الخدمةتحليل الأعطال واستشارات المواد
ابتداءً من 775 €7–14 يوم عملاطلب هذه الخدمةتفاصيل الخدمةتدريب مشغّلي الأجهزة
ابتداءً من 420 €14–30 يوم عملاطلب هذه الخدمةتفاصيل الخدمة
- الشركة المصنّعة
- ZEISS
- الطراز
- EVO 10 + Oxford Instruments EDS
- رقم الكتالوج
- 19
- المعايير المرجعية
- ISO 16700, ASTM E1508, ISO 22309
إجابات سريعة
SEM / EDS: أهم المعلومات
فيمَ يُستخدم المجهر الإلكتروني الماسح ZEISS EVO 10 مع كاشف EDS من أكسفورد؟
يُستخدم في: التصوير بالإلكترونات الثانوية (SE) والإلكترونات المرتدة (BSE) ووضع الضغط المتغير للعينات غير الموصلة بدون طلاء وتحليل EDS النقطي والخطي ورسم الخرائط (العناصر من B إلى U) وقياسات حجم الجسيمات والمسامية وسماكة الطبقات وإعداد تقارير تحليل أسطح الكسر والأعطال.
ما العينات التي يمكن تحليلها باستخدام المجهر الإلكتروني الماسح ZEISS EVO 10 مع كاشف EDS من أكسفورد؟
العينات المناسبة: المعادن والسبائك والسيراميك والمركبات والبوليمرات والطلاءات والمساحيق والمواد النانوية والعينات البيولوجية والمجففة.
ما المعايير المرتبطة بـ المجهر الإلكتروني الماسح ZEISS EVO 10 مع كاشف EDS من أكسفورد؟
المعايير ذات الصلة: ISO 16700 وASTM E1508 وISO 22309.
ما خدمات NAKTEM التي تستخدم المجهر الإلكتروني الماسح ZEISS EVO 10 مع كاشف EDS من أكسفورد؟
التصوير والتحليل الدقيق بتقنية SEM/EDS وتحليل الأعطال واستشارات المواد وتدريب مشغّلي الأجهزة.
ما النتائج التي أحصل عليها؟
المخرجات المعتادة: صور مجهرية SE/BSE مع مقاييس رسم ومعاملات الالتقاط (TIFF/PNG) وأطياف EDS وجداول التحليل النقطي/المساحي (النسبة الوزنية والذرية) وخرائط عنصرية وأشكال المسح الخطي وتقرير فني (PDF) يغطي تحضير العينة والطلاء وظروف القياس وجداول قياس حجم الجسيمات أو السماكة أو المسامية عند الطلب.
خدمات ذات صلة
التحليل
التصوير والتحليل الدقيق بتقنية SEM/EDS
تصوير السطح بدقة عالية بالمجهر الإلكتروني الماسح مع تحليل عنصري نقطي وخطي وخرائطي بمطيافية الأشعة السينية المشتتة للطاقة.
الاستشارات
تحليل الأعطال واستشارات المواد
تحديد السبب الجذري للكسر والتآكل وانفصال الطلاء ومشكلات أداء المنتج عبر توصيف متعدد التقنيات مع توصيات للتحسين.
التدريب
تدريب مشغّلي الأجهزة
تدريب عملي لمشغّلي الأجهزة التحليلية بما فيها SEM/EDS وXRD ورامان وقياس الريولوجيا، يشمل تحضير العينات والقياس وتفسير البيانات.
أجهزة ذات صلة
الطلاء والأغشية الرقيقة
جهاز الطلاء بالرش المهبطي Quorum MiniQS
طلاء موصل بسماكة نانومترية من الذهب أو الذهب-البلاديوم أو البلاتين للعينات غير الموصلة قبل تصوير SEM ودراسات الأغشية الرقيقة.
المطيافية والحيود
جهاز حيود الأشعة السينية (XRD) Anton Paar XRDynamic 500
تحديد الأطوار البلورية والتحليل الكمي للأطوار وحجم البلورات والدراسات البنيوية في ظروف غير محيطية للمساحيق والمواد الصلبة.
المطيافية والحيود
نظام مطيافية ميكرو-رامان البؤري المبني على Olympus BX43F
مطيافية ميكرو-رامان بإثارة ليزرية للتعرف الكيميائي والبنيوي بدقة ميكرومترية، بما في ذلك تحليل الأطوار والعيوب في المواد الكربونية والبوليمرات والمعادن.
قراءات إضافية
التدريب
لماذا يؤتي التدريب على توصيف المواد ثماره؟
قد تكلّف عينة سيئة التحضير أو معامل مختار خطأً أو طيف مُفرط في تفسيره أكثر بكثير من ثمن الجهاز نفسه. نشرح لماذا يحقق التدريب المنظم على التوصيف عائداً ملموساً لفرق البحث والتطوير والجودة.
27 أكتوبر 2026مدة القراءة: 4 دقيقةالتوصيف
دليل تحضير العينات لتحليل SEM/EDS
تبدأ نتائج المجهر الإلكتروني الماسح وتحليل EDS الموثوقة قبل دخول العينة إلى الحجرة بوقت طويل. دليل عملي للتثبيت والطلاء الموصل وتحضير السطح والأخطاء التي تفسد التحليل في أغلب الأحيان.
22 سبتمبر 2026مدة القراءة: 5 دقيقةالتوصيف
كيف تختار طريقة تحليل حجم الجسيمات المناسبة؟
دليل عملي للاختيار بين حيود الليزر والمجهر الإلكتروني وتشتت الضوء الديناميكي والتحليل بالمناخل، استناداً إلى طبيعة العينة ونطاق الحجم وطريقة استخدام النتيجة.
8 سبتمبر 2026مدة القراءة: 4 دقيقة
طلب تحليل على هذا الجهاز
حدّثونا عن عينتكم وسؤالكم. يؤكد علماؤنا الجدوى ويقترحون خطة قياس.