میکروسکوپی و تصویربرداری
میکروسکوپ الکترونی روبشی ZEISS EVO 10 با آشکارساز EDS آکسفورد
تصویربرداری از مورفولوژی سطح در مقیاس نانومتر همراه با نقشهبرداری عنصری هم‌زمان به روش طیف‌سنجی پراش انرژی پرتو ایکس.
خلاصه
تصویربرداری از مورفولوژی سطح در مقیاس نانومتر همراه با نقشهبرداری عنصری هم‌زمان به روش طیف‌سنجی پراش انرژی پرتو ایکس. ZEISS EVO 10 یک میکروسکوپ الکترونی روبشی چندمنظوره با رشتهٔ تنگستن است که در هر دو حالت خلأ بالا و فشار متغیر کار می‌کند.
- منبع الکترون
- رشتهٔ تنگستن
- ولتاژ شتاب‌دهنده
- ۰٫۲ تا ۳۰ کیلوولت
- وضوح
- ۳ نانومتر در ۳۰ کیلوولت (SE)
خدمات ارائه‌شده با این دستگاه
تصویربرداری و ریزتحلیل SEM/EDS
از €۱۷۰3 تا 7 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمتتحلیل خرابی و مشاورهٔ مواد
از €۷۷۵7 تا 14 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمتآموزش اپراتور دستگاه
از €۴۲۰14 تا 30 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمت
نمای کلی
ZEISS EVO 10 یک میکروسکوپ الکترونی روبشی چندمنظوره با رشتهٔ تنگستن است که در هر دو حالت خلأ بالا و فشار متغیر کار می‌کند. نمونههای نارسانا مانند پلیمرها، سرامیکها و نمونههای زیستی را میتوان در حالت فشار متغیر بدون پوشش رسانا بررسی کرد. آشکارساز EDS یکپارچهٔ Oxford Instruments با تحلیل نقطهای، روبش خطی و نقشهبرداری عنصری، داده‌های تصویری را با اطلاعات ترکیب شیمیایی تکمیل می‌کند. این سیستم برای ارائهٔ نتایج تکرارپذیر و قابل ردیابی در کنترل کیفیت، تحلیل خرابی و برنامه‌های تحقیق و توسعه پیکربندی شده است.
اصل اندازهگیری
قابلیت‌ها
تصویربرداری با الکترونهای ثانویه (SE) و الکترونهای پسپراکنده (BSE)
حالت فشار متغیر برای نمونههای نارسانای بدون پوشش
تحلیل نقطهای، خطی و نقشهبرداری EDS (عناصر B تا U)
اندازهگیری اندازهٔ ذرات، تخلخل و ضخامت لایه
گزارشدهی تحلیل سطح شکست و خرابی
نمونههای مناسب
فلزات و آلیاژها
سرامیکها و کامپوزیتها
پلیمرها و پوششها
پودرها و نانومواد
نمونههای زیستی و خشکشده
مشخصات فنی
| منبع الکترون | رشتهٔ تنگستن |
|---|---|
| ولتاژ شتاب‌دهنده | ۰٫۲ تا ۳۰ کیلوولت |
| وضوح | ۳ نانومتر در ۳۰ کیلوولت (SE) |
| بزرگ‌نمایی | ۵ تا ۱٬۰۰۰٬۰۰۰ برابر |
| حالت‌های خلأ | خلأ بالا / فشار متغیر (۱۰ تا ۴۰۰ پاسکال) |
| آشکارساز EDS | Oxford Instruments SDD |
خدمات ارائه‌شده با این دستگاه
تصویربرداری و ریزتحلیل SEM/EDS
از €۱۷۰3 تا 7 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمتتحلیل خرابی و مشاورهٔ مواد
از €۷۷۵7 تا 14 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمتآموزش اپراتور دستگاه
از €۴۲۰14 تا 30 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمت
- سازنده
- ZEISS
- مدل
- EVO 10 + Oxford Instruments EDS
- شمارهٔ کاتالوگ
- 19
- استانداردهای مرجع
- ISO 16700, ASTM E1508, ISO 22309
پاسخ‌های سریع
SEM / EDS: نکات کلیدی
میکروسکوپ الکترونی روبشی ZEISS EVO 10 با آشکارساز EDS آکسفورد برای چه کاری استفاده میشود؟
کاربردها: تصویربرداری با الکترونهای ثانویه (SE) و الکترونهای پسپراکنده (BSE)، حالت فشار متغیر برای نمونههای نارسانای بدون پوشش، تحلیل نقطهای، خطی و نقشهبرداری EDS (عناصر B تا U)، اندازهگیری اندازهٔ ذرات، تخلخل و ضخامت لایه، و گزارشدهی تحلیل سطح شکست و خرابی.
با میکروسکوپ الکترونی روبشی ZEISS EVO 10 با آشکارساز EDS آکسفورد چه نمونههایی را میتوان آنالیز کرد؟
نمونههای مناسب: فلزات و آلیاژها، سرامیکها و کامپوزیتها، پلیمرها و پوششها، پودرها و نانومواد، و نمونههای زیستی و خشکشده.
میکروسکوپ الکترونی روبشی ZEISS EVO 10 با آشکارساز EDS آکسفورد به کدام استانداردها مرتبط است؟
استانداردهای مرتبط: ISO 16700، ASTM E1508، و ISO 22309.
میکروسکوپ الکترونی روبشی ZEISS EVO 10 با آشکارساز EDS آکسفورد در کدام خدمات NAKTEM استفاده میشود؟
تصویربرداری و ریزتحلیل SEM/EDS، تحلیل خرابی و مشاورهٔ مواد، و آموزش اپراتور دستگاه.
چه نتایجی دریافت میکنم؟
خروجیهای معمول: ریزنگارهای SE/BSE با مقیاس و پارامترهای تصویربرداری (TIFF/PNG)، طیفهای EDS و جدولهای تحلیل نقطهای/ناحیهای (درصد وزنی و اتمی)، نقشههای عنصری و پروفیلهای روبش خطی، گزارش فنی (PDF) شامل آمادهسازی نمونه، پوششدهی و شرایط اندازهگیری، و جدولهای اندازهگیری اندازهٔ ذرات، ضخامت یا تخلخل در صورت درخواست.
خدمات مرتبط
آنالیز
تصویربرداری و ریزتحلیل SEM/EDS
تصویربرداری سطح با وضوح بالا به روش میکروسکوپ الکترونی روبشی همراه با تحلیل عنصری نقطهای، خطی و نقشه‌ای به روش EDS.
مشاوره
تحلیل خرابی و مشاورهٔ مواد
تعیین علت ریشه‌ای شکست، خوردگی، جدایش پوشش و مشکلات عملکرد محصول با مشخصه‌یابی چندتکنیکی همراه با پیشنهادهای بهبود.
آموزش
آموزش اپراتور دستگاه
آموزش عملی اپراتور روی دستگاه‌های تحلیلی شامل SEM/EDS، XRD، رامان و رئومتری با پوشش آمادهسازی نمونه، اندازهگیری و تفسیر داده‌ها.
دستگاه‌های مرتبط
پوشش و فیلم نازک
دستگاه لایه‌نشانی کندوپاش (اسپاترینگ) Quorum MiniQS
پوشش رسانای طلا، طلا-پالادیم یا پلاتین با ضخامت نانومتری روی نمونههای نارسانا پیش از تصویربرداری SEM و مطالعات فیلم نازک.
طیف‌سنجی و پراش
پراش‌سنج پرتو ایکس (XRD) Anton Paar XRDynamic 500
شناسایی فازهای بلوری، تحلیل کمّی فاز، اندازهٔ بلورک و مطالعات ساختاری در شرایط غیرمحیطی روی پودرها و مواد جامد.
طیف‌سنجی و پراش
سامانهٔ طیف‌سنجی میکرو-رامان هم‌کانون مبتنی بر Olympus BX43F
طیف‌سنجی میکرو-رامان با برانگیختگی لیزری برای شناسایی شیمیایی و ساختاری در وضوح میکرومتری، شامل تحلیل فاز و نقص در مواد کربنی، پلیمرها و کانی‌ها.
مطالب بیشتر
آموزش
چرا آموزش مشخصه‌یابی مواد به صرفه است؟
نمونه‌ای که بد آماده شده، پارامتری که اشتباه انتخاب شده یا طیفی که بیش از حد تفسیر شده می‌تواند بسیار گران‌تر از خود دستگاه تمام شود. توضیح می‌دهیم چرا آموزش ساختاریافتهٔ مشخصه‌یابی برای تیم‌های تحقیق و توسعه و کیفیت بازدهی ملموس دارد.
۵ آبان ۱۴۰۵4 دقیقه مطالعهمشخصهیابی
راهنمای آمادهسازی نمونه برای SEM/EDS
نتایج قابل اعتماد میکروسکوپ الکترونی روبشی و EDS بسیار پیش از ورود نمونه به محفظه آغاز میشود. راهنمایی عملی دربارهٔ نصب نمونه، پوشش رسانا، آمادهسازی سطح و خطاهایی که بیش از همه یک آنالیز را خراب می‌کنند.
۳۱ شهریور ۱۴۰۵5 دقیقه مطالعهمشخصهیابی
چگونه روش مناسب آنالیز اندازهٔ ذرات را انتخاب کنیم؟
راهنمایی کاربردی برای انتخاب میان پراش لیزری، میکروسکوپ الکترونی، پراکندگی دینامیکی نور و الک، بر اساس نمونه، بازهٔ اندازه و نحوهٔ استفاده از نتیجه.
۱۷ شهریور ۱۴۰۵5 دقیقه مطالعه
درخواست آنالیز با این دستگاه
نمونه و پرسش خود را با ما در میان بگذارید. پژوهشگران ما امکان‌سنجی را تأیید و یک برنامهٔ اندازهگیری پیشنهاد می‌کنند.