طیفسنجی و پراش
سامانهٔ طیفسنجی میکرو-رامان همکانون مبتنی بر Olympus BX43F
طیفسنجی میکرو-رامان با برانگیختگی لیزری برای شناسایی شیمیایی و ساختاری در وضوح میکرومتری، شامل تحلیل فاز و نقص در مواد کربنی، پلیمرها و کانیها.
خلاصه
طیفسنجی میکرو-رامان با برانگیختگی لیزری برای شناسایی شیمیایی و ساختاری در وضوح میکرومتری، شامل تحلیل فاز و نقص در مواد کربنی، پلیمرها و کانیها. این سامانه از یک طیف‌سنج رامان متصل به بدنهٔ میکروسکوپ پژوهشی عمودی Olympus BX43F تشکیل شده است؛ لیزر متمرکز نمونه را برمی‌انگیزد و نور پراکنده‌شدهٔ ناکشسان جمع‌آوری میشود تا طیف ارتعاشی حاصل شود.
- بدنهٔ میکروسکوپ
- میکروسکوپ پژوهشی عمودی Olympus BX43F
- برانگیختگی
- برانگیختگی لیزری در ناحیهٔ مرئی
- حالت‌های اندازه‌گیری
- طیف نقطهای، روبش خطی، نقشهبرداری سطحی، پروفایل عمقی
خدمات ارائه‌شده با این دستگاه
تحلیل طیفسنجی رامان
از €۲۱۰3 تا 7 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمتآموزش اپراتور دستگاه
از €۴۲۰14 تا 30 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمت
نمای کلی
این سامانه از یک طیف‌سنج رامان متصل به بدنهٔ میکروسکوپ پژوهشی عمودی Olympus BX43F تشکیل شده است؛ لیزر متمرکز نمونه را برمی‌انگیزد و نور پراکنده‌شدهٔ ناکشسان جمع‌آوری میشود تا طیف ارتعاشی حاصل شود. از آنجا که جابه‌جایی‌های رامان مستقیماً به پیوندهای مولکولی، فاز بلوری، کرنش و چگالی نقصها حساس‌اند، این روش شناسایی شیمیایی غیرمخرب را تقریباً بدون آماده‌سازی نمونه فراهم می‌کند. عدسی‌های شیئی میکروسکوپ امکان تحلیل نقطهای، روبش خطی و نقشهبرداری رامان با وضوح جانبی زیرمیکرومتری را می‌دهند و اپتیک همکانون تفکیک عمقی را در لایههای نازک و ساختارهای لایهای فراهم می‌سازد. کاربردهای اصلی شامل تحلیل نوارهای D/G/2D در گرافن و نانولولههای کربنی، تعیین بلورینگی و شناسایی اجزا در پلیمرها، تفکیک فازی در کانیها و تعیین پلیمورف در داروهاست. نتایج به صورت تطبیق با کتابخانهٔ طیفی، پارامترهای قله و نقشه‌های شیمیایی گزارش می‌شوند.
اصل اندازه‌گیری
قابلیت‌ها
نقشهبرداری رامان با روبش نقطهای، خطی و سطحی
تحلیل نوارهای D/G/2D و نقصها در گرافن، نانولولههای کربنی و مواد کربنی
تعیین بلورینگی، جهتگیری و شناسایی اجزا در پلیمرها
تفکیک فازی و تعیین پلیمورف در کانیها و سرامیکها
پروفایل عمقی همکانون ساختارهای لایهای
تطبیق با کتابخانهٔ طیفی و گزارش پارامترهای قله
نمونههای مناسب
گرافن، نانولولههای کربنی و پودرهای کربنی
فیلمها، الیاف و کامپوزیتهای پلیمری
نمونههای کانی، سرامیکی و شیشهای
لایههای نازک و پوششها
فرمهای جامد دارویی
نیمهرساناها و مواد دوبعدی
مشخصات فنی
| بدنهٔ میکروسکوپ | میکروسکوپ پژوهشی عمودی Olympus BX43F |
|---|---|
| برانگیختگی | برانگیختگی لیزری در ناحیهٔ مرئی |
| حالت‌های اندازه‌گیری | طیف نقطهای، روبش خطی، نقشهبرداری سطحی، پروفایل عمقی |
| وضوح جانبی | زیرمیکرومتر با عدسی‌های شیئی بزرگ‌نمایی بالا |
| آماده‌سازی نمونه | نیاز ندارد؛ اندازه‌گیری غیرمخرب و بدون تماس |
| خروجی داده | طیف‌ها، جدول قله‌ها، نقشه‌ها، تطبیق با کتابخانه |
خدمات ارائه‌شده با این دستگاه
تحلیل طیفسنجی رامان
از €۲۱۰3 تا 7 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمتآموزش اپراتور دستگاه
از €۴۲۰14 تا 30 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمت
- سازنده
- Olympus
- مدل
- BX43F
- شمارهٔ کاتالوگ
- 2
- استانداردهای مرجع
- ASTM E1840, ASTM E2529
پاسخ‌های سریع
رامان: نکات کلیدی
سامانهٔ طیفسنجی میکرو-رامان همکانون مبتنی بر Olympus BX43F برای چه کاری استفاده میشود؟
کاربردها: نقشهبرداری رامان با روبش نقطهای، خطی و سطحی، تحلیل نوارهای D/G/2D و نقصها در گرافن، نانولولههای کربنی و مواد کربنی، تعیین بلورینگی، جهتگیری و شناسایی اجزا در پلیمرها، تفکیک فازی و تعیین پلیمورف در کانیها و سرامیکها، پروفایل عمقی همکانون ساختارهای لایهای، و تطبیق با کتابخانهٔ طیفی و گزارش پارامترهای قله.
با سامانهٔ طیفسنجی میکرو-رامان همکانون مبتنی بر Olympus BX43F چه نمونههایی را میتوان آنالیز کرد؟
نمونههای مناسب: گرافن، نانولولههای کربنی و پودرهای کربنی، فیلمها، الیاف و کامپوزیتهای پلیمری، نمونههای کانی، سرامیکی و شیشهای، لایههای نازک و پوششها، فرمهای جامد دارویی، و نیمهرساناها و مواد دوبعدی.
سامانهٔ طیفسنجی میکرو-رامان همکانون مبتنی بر Olympus BX43F به کدام استانداردها مرتبط است؟
استانداردهای مرتبط: ASTM E1840 و ASTM E2529.
سامانهٔ طیفسنجی میکرو-رامان همکانون مبتنی بر Olympus BX43F در کدام خدمات NAKTEM استفاده میشود؟
تحلیل طیفسنجی رامان و آموزش اپراتور دستگاه.
چه نتایجی دریافت میکنم؟
خروجیهای معمول: طیفهای رامان با تصحیح خط پایه و جدول موقعیت و پهنای پیکها، ارزیابی نسبتهای D/G و 2D/G برای مواد کربنی، تصاویر میکروسکوپ نوری از نقاط اندازهگیریشده، خلاصهٔ روش شامل طول موج لیزر، توان، زمان نوردهی و عدسی شیئی، و دادههای طیفی خام (CSV/TXT) و گزارش PDF.
خدمات مرتبط
آنالیز
تحلیل طیفسنجی رامان
طیفسنجی میکرو-رامان غیرمخرب برای ساختار مولکولی، شناسایی فاز، بلورینگی و تحلیل نقص در مواد کربنی و سایر مواد.
آموزش
آموزش اپراتور دستگاه
آموزش عملی اپراتور روی دستگاه‌های تحلیلی شامل SEM/EDS، XRD، رامان و رئومتری با پوشش آماده‌سازی نمونه، اندازه‌گیری و تفسیر داده‌ها.
دستگاه‌های مرتبط
طیفسنجی و پراش
طیف‌سنج مادون قرمز تبدیل فوریه (FTIR) Anton Paar Lyza 7000
شناسایی گروه‌های عاملی، تأیید مواد و کنترل کیفیت جامدات، مایعات و فیلمها در حالت‌های نمونه‌گیری ATR و عبوری.
طیفسنجی و پراش
پراش‌سنج پرتو ایکس (XRD) Anton Paar XRDynamic 500
شناسایی فازهای بلوری، تحلیل کمّی فاز، اندازهٔ بلورک و مطالعات ساختاری در شرایط غیرمحیطی روی پودرها و مواد جامد.
میکروسکوپی و تصویربرداری
میکروسکوپ الکترونی روبشی ZEISS EVO 10 با آشکارساز EDS آکسفورد
تصویربرداری از مورفولوژی سطح در مقیاس نانومتر همراه با نقشهبرداری عنصری هم‌زمان به روش طیفسنجی پراش انرژی پرتو ایکس.
سنتز و فرآوری
سامانهٔ سنتز لایهٔ نازک و نانومواد به روش رسوب‌دهی شیمیایی از فاز بخار (CVD)
سنتز گرافن، نانولولههای کربنی، دی‌کالکوژنیدهای فلزات واسطه و لایههای نازک اکسیدی با CVD کورهٔ لوله‌ای تحت جریان گاز و پروفایل دمایی کنترل‌شده.
مطالب بیشتر
مشخصه‌یابی
FTIR یا رامان: کدام روش برای نمونهٔ شما مناسب است؟
FTIR و رامان ارتعاش‌های مولکولی یکسانی را با فیزیکی متفاوت می‌سنجند. راهنمایی عملی برای انتخاب میان آن‌ها، نیازهای هر روش از نمونه و چگونگی خواندن طیف.
۱۸ آبان ۱۴۰۵8 دقیقه مطالعه
درخواست آنالیز با این دستگاه
نمونه و پرسش خود را با ما در میان بگذارید. پژوهشگران ما امکان‌سنجی را تأیید و یک برنامهٔ اندازه‌گیری پیشنهاد می‌کنند.