الکتروشیمی و الکتریکی
سامانهٔ اندازهگیری مقاومت سطحی با پروب چهارنقطهای Ossila P2010A2
اندازهگیری مقاومت سطحی، مقاومت ویژه و رسانندگی لایههای نازک، پوشش‌ها و ویفرهای نیمه‌رسانا مستقل از مقاومت تماسی.
خلاصه
اندازهگیری مقاومت سطحی، مقاومت ویژه و رسانندگی لایههای نازک، پوشش‌ها و ویفرهای نیمه‌رسانا مستقل از مقاومت تماسی. Ossila P2010A2 یک سامانهٔ رومیزی پروب چهارنقطهای است که با عبور جریان از دو پروب بیرونی و اندازهگیری ولتاژ میان دو پروب درونی از چهار نوک فنری با فاصلهٔ یکسان، مقاومت سطحی را مستقل از مقاومت تماس و سیم‌ها تعیین می‌کند.
- روش اندازهگیری
- پروب چهارنقطهای خطی (DC)
- فاصلهٔ پروبها
- ۱٫۲۷ میلی‌متر
- نوک پروبها
- چهار نوک فنری با سر گرد
خدمات ارائهشده با این دستگاه
آزمون مقاومت سطحی الکتریکی
از €۱۱۵5 تا 10 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمتآموزش اپراتور دستگاه
از €۴۲۰14 تا 30 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمت
نمای کلی
Ossila P2010A2 یک سامانهٔ رومیزی پروب چهارنقطهای است که با عبور جریان از دو پروب بیرونی و اندازهگیری ولتاژ میان دو پروب درونی از چهار نوک فنری با فاصلهٔ یکسان، مقاومت سطحی را مستقل از مقاومت تماس و سیم‌ها تعیین می‌کند. با وارد کردن ضخامت لایه، مقاومت ویژه و رسانندگی به‌طور خودکار محاسبه میشود؛ نرم‌افزار ضرایب تصحیح هندسی را اعمال می‌کند و با روبش جریان و میانگینگیری چندباره، عدمقطعیت را کاهش می‌دهد. نمونههای متداول شامل پلیمرهای رسانا، اکسیدهای رسانای شفاف (ITO و FTO)، پوششهای فلزی، لایههای گرافن و نانولولهٔ کربنی، ویفرهای نیمهرسانای آلاییده و لایههای الکترونیک چاپی است. این سامانه برای بهینه‌سازی فرایندهای لایه‌نشانی نازک، تأیید یکنواختی پوشش و کنترل کیفیت الکتریکی در الکترونیک آلی، فتوولتائیک و پژوهش‌های حسگر به کار می‌رود.
اصل اندازهگیری
قابلیت‌ها
اندازهگیری مقاومت سطحی (Ω/sq) مستقل از مقاومت تماسی
محاسبهٔ مقاومت ویژه (Ω·cm) و رسانندگی (S/cm) از روی ضخامت لایه
روبش جریان و میانگینگیری چندباره برای کاهش عدمقطعیت
ضرایب تصحیح هندسی برای نتایج دقیق در نمونههای کوچک و نازک
نقشهبرداری چندنقطهای برای ارزیابی یکنواختی پوشش
مشخصهیابی لایههای اکسید رسانای شفاف و پلیمر رسانا
نمونههای مناسب
پوششهای اکسید رسانای شفاف (ITO و FTO)
لایههای نازک فلزی و پوششهای کندوپاشی
لایههای پلیمر رسانا و کربنپایه
ویفرهای نیمهرسانای آلاییده
لایههای الکترونیک چاپی و جوهر رسانا
مشخصات فنی
| روش اندازهگیری | پروب چهارنقطهای خطی (DC) |
|---|---|
| فاصلهٔ پروبها | ۱٫۲۷ میلی‌متر |
| نوک پروبها | چهار نوک فنری با سر گرد |
| گسترهٔ مقاومت سطحی | از مرتبهٔ mΩ/sq تا MΩ/sq |
| کمیت‌های مشتق‌شده | مقاومت ویژه، رسانندگی (با ورود ضخامت) |
| کنترل و داده | نرم‌افزار رایانه با ضرایب تصحیح خودکار و خروجی CSV |
خدمات ارائهشده با این دستگاه
آزمون مقاومت سطحی الکتریکی
از €۱۱۵5 تا 10 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمتآموزش اپراتور دستگاه
از €۴۲۰14 تا 30 روز کاریدرخواست این خدمتجزئیات خدمت
- سازنده
- Ossila
- مدل
- P2010A2
- شمارهٔ کاتالوگ
- 25
- استانداردهای مرجع
- SEMI MF84, SEMI MF390
پاسخ‌های سریع
پروب چهارنقطهای: نکات کلیدی
سامانهٔ اندازهگیری مقاومت سطحی با پروب چهارنقطهای Ossila P2010A2 برای چه کاری استفاده میشود؟
کاربردها: اندازهگیری مقاومت سطحی (Ω/sq) مستقل از مقاومت تماسی، محاسبهٔ مقاومت ویژه (Ω·cm) و رسانندگی (S/cm) از روی ضخامت لایه، روبش جریان و میانگینگیری چندباره برای کاهش عدمقطعیت، ضرایب تصحیح هندسی برای نتایج دقیق در نمونههای کوچک و نازک، نقشهبرداری چندنقطهای برای ارزیابی یکنواختی پوشش، و مشخصهیابی لایههای اکسید رسانای شفاف و پلیمر رسانا.
با سامانهٔ اندازهگیری مقاومت سطحی با پروب چهارنقطهای Ossila P2010A2 چه نمونههایی را میتوان آنالیز کرد؟
نمونههای مناسب: پوششهای اکسید رسانای شفاف (ITO و FTO)، لایههای نازک فلزی و پوششهای کندوپاشی، لایههای پلیمر رسانا و کربنپایه، ویفرهای نیمهرسانای آلاییده، و لایههای الکترونیک چاپی و جوهر رسانا.
سامانهٔ اندازهگیری مقاومت سطحی با پروب چهارنقطهای Ossila P2010A2 به کدام استانداردها مرتبط است؟
استانداردهای مرتبط: SEMI MF84 و SEMI MF390.
سامانهٔ اندازهگیری مقاومت سطحی با پروب چهارنقطهای Ossila P2010A2 در کدام خدمات NAKTEM استفاده میشود؟
آزمون مقاومت سطحی الکتریکی و آموزش اپراتور دستگاه.
چه نتایجی دریافت میکنم؟
خروجیهای معمول: مقاومت سطحی (Ω/sq) برای هر نقطهٔ اندازهگیری همراه با ضرایب تصحیح هندسی اعمالشده، مقاومت ویژه (Ω·cm) و رسانایی (S/cm) برای لایههایی با ضخامت ارائهشده، نقشهٔ یکنواختی چندنقطهای و خلاصهٔ آماری در صورت درخواست، خلاصهٔ روش شامل جریان، فاصلهٔ پروبها، دمای اندازهگیری و هندسهٔ نمونه، و دادههای خام (CSV) و گزارش PDF.
خدمات مرتبط
آزمون
آزمون مقاومت سطحی الکتریکی
اندازهگیری مقاومت سطحی، مقاومت ویژه و رسانایی لایههای نازک، پوششهای رسانا و ویفرهای نیمه‌رسانا به روش پروب چهارنقطهای.
آموزش
آموزش اپراتور دستگاه
آموزش عملی اپراتور روی دستگاه‌های تحلیلی شامل SEM/EDS، XRD، رامان و رئومتری با پوشش آماده‌سازی نمونه، اندازهگیری و تفسیر داده‌ها.
دستگاه‌های مرتبط
پوشش و فیلم نازک
دستگاه لایه‌نشانی چرخشی برنامه‌پذیر Laurell WS-650Mz-23NPPB (Spin Coater)
لایه‌نشانی یکنواخت لایههای نازک پلیمری، سل‌ژل و نانومواد از محلول روی زیرلایه‌های تخت با ضخامت کنترل‌شده به روش چرخشی.
سنتز و فرآوری
سامانهٔ سنتز لایهٔ نازک و نانومواد به روش رسوب‌دهی شیمیایی از فاز بخار (CVD)
سنتز گرافن، نانولوله‌های کربنی، دی‌کالکوژنیدهای فلزات واسطه و لایههای نازک اکسیدی با CVD کورهٔ لوله‌ای تحت جریان گاز و پروفایل دمایی کنترل‌شده.
پوشش و فیلم نازک
ضخامت‌سنج پوشش DeFelsko PosiTector 6000
اندازهگیری غیرمخرب ضخامت رنگ، آبکاری و فیلم نازک روی زیرلایه‌های فلزی با اصول القای مغناطیسی و جریان گردابی.
الکتروشیمی و الکتریکی
ایستگاه کاری الکتروشیمیایی Corrtest CS310X (پتانسیواستات / گالوانواستات)
ایستگاه کاری الکتروشیمیایی تک‌کاناله برای ولتامتری، پلاریزاسیون و طیف‌سنجی امپدانس (EIS) در مطالعات خوردگی، باتری و الکتروکاتالیز.
درخواست آنالیز با این دستگاه
نمونه و پرسش خود را با ما در میان بگذارید. پژوهشگران ما امکان‌سنجی را تأیید و یک برنامهٔ اندازهگیری پیشنهاد می‌کنند.