İçeriğe atla
Bir Nanografi Nano Teknoloji kuruluşuNanografi [email protected]
Giriş
Analiz talebi

Elektrokimyasal ve elektriksel karakterizasyon

Ossila P2010A2 Dört Nokta Prob Yüzey Direnci Ölçüm Sistemi

İnce film, kaplama ve yarı iletken plakaların yüzey direnci, özdirenci ve iletkenliğinin temas direncinden bağımsız dört nokta yöntemiyle ölçümü.

İnce film numunesi üzerinde dört nokta prob ölçüm başlığı
Fotoğraf: Rgarrigan, Wikimedia Commons, CC BY-SA 4.0
Hizmette
SEMI MF84
SEMI MF390

Kısaca

İnce film, kaplama ve yarı iletken plakaların yüzey direnci, özdirenci ve iletkenliğinin temas direncinden bağımsız dört nokta yöntemiyle ölçümü. Ossila P2010A2, eş aralıklı dört yaylı prob ucuyla dış iki prob üzerinden akım geçirip iç iki prob arasındaki gerilimi ölçerek yüzey direncini (sheet resistance) temas ve kablo direncinden bağımsız biçimde belirleyen tezgâh üstü bir dört nokta prob sistemidir.

Ölçüm yöntemi
Doğrusal dört nokta prob (DC)
Prob aralığı
1,27 mm
Prob uçları
Yaylı, yuvarlatılmış uçlu dört prob

Bu cihazla sunulan hizmetler

Fiyatlar yol göstericidir, ek taleplerinize göre değişiklik gösterebilir. Ekibimiz sizinle iletişime geçerek kapsamı ve net fiyatı netleştirecektir.

Genel bakış

Ossila P2010A2, eş aralıklı dört yaylı prob ucuyla dış iki prob üzerinden akım geçirip iç iki prob arasındaki gerilimi ölçerek yüzey direncini (sheet resistance) temas ve kablo direncinden bağımsız biçimde belirleyen tezgâh üstü bir dört nokta prob sistemidir. Film kalınlığı girildiğinde özdirenç ve iletkenlik otomatik olarak hesaplanır; yazılım geometrik düzeltme faktörlerini uygular, akım tarama ve çoklu ölçüm ortalaması ile belirsizliği azaltır. İletken polimerler, şeffaf iletken oksitler (ITO, FTO), metal kaplamalar, grafen ve karbon nanotüp filmleri, katkılı yarı iletken plakalar ve baskılı elektronik katmanları tipik numunelerdir. Sistem, ince film biriktirme süreçlerinin optimizasyonu, kaplama homojenliğinin doğrulanması ve organik elektronik, fotovoltaik ve sensör araştırmalarında elektriksel kalite kontrolü için kullanılır.

Ölçüm prensibi

Kabiliyetler

  • Yüzey direnci (Ω/sq) ölçümü, temas direncinden bağımsız

  • Kalınlık bilgisiyle özdirenç (Ω·cm) ve iletkenlik (S/cm) hesaplama

  • Akım taraması ve çoklu ölçüm ortalaması ile belirsizlik azaltma

  • Geometrik düzeltme faktörleriyle küçük ve ince numunelerde doğru sonuç

  • Kaplama homojenliği için çoklu nokta haritalama

  • Şeffaf iletken oksit ve iletken polimer filmlerin karakterizasyonu

Uygun numuneler

  • Şeffaf iletken oksit kaplamalar (ITO, FTO)

  • Metal ince filmler ve püskürtme kaplamalar

  • İletken polimer ve karbon bazlı filmler

  • Katkılı yarı iletken plakalar

  • Baskılı elektronik ve iletken mürekkep katmanları

Teknik özellikler

Ossila P2010A2 Dört Nokta Prob Yüzey Direnci Ölçüm Sistemi — Teknik özellikler
Ölçüm yöntemiDoğrusal dört nokta prob (DC)
Prob aralığı1,27 mm
Prob uçlarıYaylı, yuvarlatılmış uçlu dört prob
Yüzey direnci aralığımΩ/sq mertebesinden MΩ/sq mertebesine
Türetilen büyüklüklerÖzdirenç, iletkenlik (kalınlık girişiyle)
Kontrol ve veriPC yazılımı, otomatik düzeltme faktörleri, CSV dışa aktarma

Bu cihazla sunulan hizmetler

Fiyatlar yol göstericidir, ek taleplerinize göre değişiklik gösterebilir. Ekibimiz sizinle iletişime geçerek kapsamı ve net fiyatı netleştirecektir.
Üretici
Ossila
Model
P2010A2
Katalog no.
25
Referans standartlar
SEMI MF84, SEMI MF390

Hızlı yanıtlar

Dört Nokta Prob: temel bilgiler

Ossila P2010A2 Dört Nokta Prob Yüzey Direnci Ölçüm Sistemi ne için kullanılır?

Şunlar için kullanılır: Yüzey direnci (Ω/sq) ölçümü, temas direncinden bağımsız, Kalınlık bilgisiyle özdirenç (Ω·cm) ve iletkenlik (S/cm) hesaplama, Akım taraması ve çoklu ölçüm ortalaması ile belirsizlik azaltma, Geometrik düzeltme faktörleriyle küçük ve ince numunelerde doğru sonuç, Kaplama homojenliği için çoklu nokta haritalama ve Şeffaf iletken oksit ve iletken polimer filmlerin karakterizasyonu.

Ossila P2010A2 Dört Nokta Prob Yüzey Direnci Ölçüm Sistemi ile hangi numuneler analiz edilebilir?

Uygun numuneler: Şeffaf iletken oksit kaplamalar (ITO, FTO), Metal ince filmler ve püskürtme kaplamalar, İletken polimer ve karbon bazlı filmler, Katkılı yarı iletken plakalar ve Baskılı elektronik ve iletken mürekkep katmanları.

Ossila P2010A2 Dört Nokta Prob Yüzey Direnci Ölçüm Sistemi hangi standartlarla ilişkilidir?

İlgili standartlar: SEMI MF84 ve SEMI MF390.

Ossila P2010A2 Dört Nokta Prob Yüzey Direnci Ölçüm Sistemi hangi NAKTEM hizmetlerinde kullanılır?

Elektriksel Tabaka Direnci Testi ve Cihaz Operatör Eğitimi.

Sonuç olarak ne alırım?

Tipik çıktılar: Ölçüm noktası başına tabaka direnci (Ω/sq) ve uygulanan geometrik düzeltme faktörleri, Kalınlık bilgisi verilen filmler için özdirenç (Ω·cm) ve iletkenlik (S/cm) değerleri, Talep hâlinde çoklu nokta homojenlik haritası ve istatistiksel özet, Akım, prob aralığı, ölçüm sıcaklığı ve numune geometrisini içeren yöntem özeti ve Ham veri (CSV) ve PDF rapor.

Bu cihazda analiz talep edin

Numunenizi ve sorunuzu anlatın. Bilim insanlarımız uygulanabilirliği teyit edip bir ölçüm planı önerir.

Analiz talebi oluştur