Mikroskopi ve görüntüleme
ZEISS EVO 10 Taramalı Elektron Mikroskobu ve Oxford EDS Dedektörü
- Elektron kaynağı
- Tungsten filament
- Hızlandırma gerilimi
- 0,2 – 30 kV
Cihaz kategorisi
Mikroskopi ve görüntüleme
Yüzeylerin, partiküllerin ve kesitlerin elektron mikroskobu ile görüntülenmesi ve elementel haritalanması.
Mikroskopi ve görüntüleme kategorisine genel bakış
NAKTEM’in Mikroskopi ve görüntüleme kategorisinde 1 cihaz bulunur: SEM / EDS. Her cihaz sayfasında ölçüm prensibi, teknik özellikler, uygun numuneler ve bu cihazla sunulan hizmetler yer alır.
Mikroskopi ve görüntüleme
ZEISS EVO 10 Taramalı Elektron Mikroskobu ve Oxford EDS Dedektörü
Nanometre ölçeğinde yüzey morfolojisi görüntüleme ve EDS ile eş zamanlı elementel bileşim haritalama.
Cihaz kategorisi
Mikroskopi ve görüntüleme hakkında sık sorulanlar
Mikroskopi ve görüntüleme kategorisinde hangi cihazlar var?
Bu kategoride 1 cihaz bulunuyor. Her birinin teknik özellikleri ve sunduğu hizmetler kendi sayfasında listelenir.
Cihazı kullanmak yerine analiz hizmeti alabilir miyim?
Evet. Analiz talebi oluşturduğunuzda numunenize uygun yöntemi ve cihazı birlikte belirleriz.
Fiyatlar nasıl belirleniyor?
İlgili hizmet sayfalarında liste fiyatları yer alır; bunlar referanstır. Numune sayısı ve ek taleplere göre değişebilir, kesin fiyat teklifle paylaşılır.
Bu cihazda analiz talep edin
Numunenizi ve sorunuzu anlatın. Bilim insanlarımız uygulanabilirliği teyit edip bir ölçüm planı önerir.