Analiz
SEM/EDS Görüntüleme ve Mikroanaliz
Taramalı elektron mikroskobu ile yüksek çözünürlüklü yüzey görüntüleme ve EDS ile nokta, çizgi ve haritalama bazlı elementel bileşim analizi.
Kısaca
Taramalı elektron mikroskobu ile yüksek çözünürlüklü yüzey görüntüleme ve EDS ile nokta, çizgi ve haritalama bazlı elementel bileşim analizi. SEM/EDS hizmeti, ZEISS EVO 10 taramalı elektron mikroskobu ve Oxford Instruments EDS dedektörü ile mikrometre altı morfoloji görüntüleme ve elementel bileşim analizini bir arada sunar.
SEM/EDS hizmeti, ZEISS EVO 10 taramalı elektron mikroskobu ve Oxford Instruments EDS dedektörü ile mikrometre altı morfoloji görüntüleme ve elementel bileşim analizini bir arada sunar. İkincil elektron (SE) görüntüleri topografyayı, geri saçılan elektron (BSE) görüntüleri ise faz kontrastını ortaya koyar; iletken olmayan numuneler Quorum sputter kaplama ile veya değişken basınç modunda kaplamasız incelenebilir. EDS ile nokta analizi, çizgi taraması ve elementel haritalama yapılarak kalıntı, inklüzyon, kaplama katmanı ve kontaminasyon kaynakları tanımlanır. Hizmet; partikül boyutu ve şekli, gözenek yapısı, kırık yüzeyi morfolojisi, kaplama kalınlığı ve ara yüzey bütünlüğü gibi sorulara yanıt verir. Metal, seramik, polimer, kompozit, toz ve kurutulmuş biyolojik numunelerle çalışan otomotiv, savunma, elektronik, enerji, kaplama ve akademik Ar-Ge kuruluşları için uygundur.
Neler alırsınız
Ölçek çubuğu ve çekim parametreleri içeren SE/BSE görüntüleri (TIFF/PNG)
EDS spektrumları, nokta/alan analiz tabloları (ağırlıkça ve atomca %)
Elementel haritalar ve çizgi tarama profilleri
Numune hazırlama, kaplama ve ölçüm koşullarını içeren teknik rapor (PDF)
Talep hâlinde partikül boyutu, kalınlık veya gözenek ölçüm tabloları
Nasıl işler
Talep ve kapsam belirleme
İncelenecek bölgeler, büyütme aralığı, EDS analiz türü ve raporlama beklentileri belirlenir; numunenin iletkenliği ve vakum uyumluluğu değerlendirilir.
Numune kabulü ve hazırlık
Numuneler kayıt edilir, stub üzerine monte edilir ve gerekiyorsa sputter kaplama uygulanır; kırık yüzeyler ve tozlar temsilî şekilde hazırlanır.
Ölçüm
Uygun hızlandırma gerilimi ve dedektör seçimi ile görüntüler alınır; EDS spektrumları, haritalar ve çizgi taramaları belirlenen bölgelerde toplanır.
Raporlama
Sonuçlar standart analiz raporunda sunulur; talep üzerine destekleyici teknik dokümantasyon paylaşılır.
Fiyatlandırma
€170
numune başına
| 1+ | €170 |
| 5+ | €153 |
| 10+ | €136 |
Teslim süresi 3–7 iş günü
Nihai fiyat numune sayısı, hazırlık ve raporlama kapsamına bağlıdır. Kalem kalem teklif alırsınız.
Fiyatlar yol göstericidir, ek taleplerinize göre değişiklik gösterebilir. Ekibimiz sizinle iletişime geçerek kapsamı ve net fiyatı netleştirecektir.Bu hizmet için talep oluşturun
Numunenizi ve desteklediği kararı tanımlayın. Teknik bir öneriyle yanıt veriyoruz.
Analiz talebi oluşturKullanılan cihazlar
- SEM / EDS
- ZEISS EVO 10 + Oxford Instruments EDS
- Sputter Kaplama
- Quorum MiniQS
Sorular
Sık sorulan sorular
SEM/EDS Görüntüleme ve Mikroanaliz için numune nasıl gönderilir?
Analiz talebi formunu doldurun. Ekibimiz numune türünüze göre hazırlık ve gönderim bilgisini size iletir; göndermeden önce numunenin uygunluğunu birlikte doğrularız.
SEM/EDS Görüntüleme ve Mikroanaliz ne kadar sürer?
Süre numune sayısına ve laboratuvar iş yüküne göre değişir. Sayfadaki tahmini süre bir referanstır; talebinizi değerlendirdikten sonra net takvimi sizinle paylaşırız.
Fiyat nasıl belirleniyor?
Sayfadaki fiyat liste fiyatıdır. Numune sayısı ve ek taleplerinize göre değişiklik gösterebilir; kapsamı netleştirdikten sonra kesin fiyatı teklifle bildiririz.
Sonuçları nasıl alırım?
Sonuçlar yazılı bir rapor olarak teslim edilir. Talebinizin durumunu hesabınızdan ve e-posta bildirimlerinden takip edebilirsiniz.
Yurt dışından talep oluşturabilir miyim?
Evet. Talepleri Türkçe, İngilizce, Arapça ve Farsça olarak alıyoruz; dönüşler tercih ettiğiniz dilde yapılır.
Kalite belgelerinizi görebilir miyim?
Kalite süreçlerimizi ISO/IEC 17025 gereklilikleri referans alınarak geliştiriyoruz. Belgelerin güncel hâli ve kapsam ayrıntıları için bizimle iletişime geçin; yazılı olarak ileteceğiz.
Kullanılan cihazlar
Mikroskopi ve görüntüleme
ZEISS EVO 10 Taramalı Elektron Mikroskobu ve Oxford EDS Dedektörü
Nanometre ölçeğinde yüzey morfolojisi görüntüleme ve EDS ile eş zamanlı elementel bileşim haritalama.
Kaplama ve ince film teknolojileri
Quorum MiniQS Sıçratma (Sputter) Kaplama Cihazı
SEM görüntüleme öncesi iletken olmayan numunelere nanometre kalınlığında altın, altın-paladyum veya platin iletken kaplama uygulanması.
İlgili hizmetler
Analiz
XRD Faz Analizi
X-ışını kırınımı (XRD) ile kristal faz tanımlama, kantitatif faz analizi, kristalit boyutu ve kristalinite tayini.
Danışmanlık
Hasar Analizi ve Malzeme Danışmanlığı
Kırılma, korozyon, kaplama ayrılması ve ürün performans sorunlarının kök nedeninin çok teknikli karakterizasyonla belirlenmesi ve iyileştirme önerileri.
Test
Kaplama Kalınlığı Testi
Manyetik ve girdap akımı prensibiyle çelik ve demir dışı alt tabakalar üzerindeki boya, kaplama ve metalik katmanların tahribatsız kalınlık ölçümü.
Eğitim
Cihaz Operatör Eğitimi
SEM/EDS, XRD, Raman ve reometre başta olmak üzere analitik cihazlarda uygulamalı operatör eğitimi; numune hazırlama, ölçüm ve veri yorumlama.
İlgili yazılar
Karakterizasyon
SEM/EDS Numune Hazırlama Rehberi
Taramalı elektron mikroskobu ve EDS analizinden güvenilir sonuç almak, numunenin cihaza nasıl ulaştığıyla başlar. Montaj, iletken kaplama, yüzey hazırlığı ve sık yapılan hatalar üzerine uygulamalı bir rehber.
22 Eylül 20264 dk okumaKarakterizasyon
Partikül Boyutu Analiz Yöntemi Nasıl Seçilir?
Lazer kırınımı, elektron mikroskobu, dinamik ışık saçılımı ve elek analizi arasında doğru seçimi yapmak için numunenizi, boyut aralığınızı ve sonucu nasıl kullanacağınızı birlikte değerlendiren pratik bir rehber.
8 Eylül 20264 dk okuma
Bu hizmet için talep oluşturun
Numunenizi ve desteklediği kararı tanımlayın. Teknik bir öneriyle yanıt veriyoruz.