
Olympus BX43F Tabanlı Konfokal Mikro-Raman Spektroskopi Sistemi
- Mikroskop gövdesi
- Olympus BX43F dik araştırma mikroskobu
- Uyarım
- Görünür bölge lazer uyarımı
Cihaz kategorisi
Malzemelerin moleküler, kristalografik ve optik parmak izi.
NAKTEM’in Spektroskopi ve kırınım kategorisinde 4 cihaz bulunur: Raman, XRD, FTIR, Floresans. Her cihaz sayfasında ölçüm prensibi, teknik özellikler, uygun numuneler ve bu cihazla sunulan hizmetler yer alır.

Spektroskopi ve kırınım
Mikrometre ölçeğinde kimyasal ve yapısal tanımlama için lazer uyarımlı mikro-Raman spektroskopisi; karbon malzemeler, polimerler ve mineraller için faz ve kusur analizi.

Spektroskopi ve kırınım
Toz ve katı malzemelerde kristal faz tanımlama, nicel faz analizi, kristalit boyutu ve ortam dışı koşullarda yapısal değişimlerin izlenmesi.

Spektroskopi ve kırınım
ATR ve geçirgenlik modlarında katı, sıvı ve film numunelerin fonksiyonel grup tanımlaması, malzeme doğrulama ve kalite kontrol analizi.

Spektroskopi ve kırınım
Sıvı, katı ve toz numunelerde uyarma ve emisyon spektrumları, üç boyutlu floresans haritaları ve kuantum verimi ile fotolüminesans karakterizasyonu.




Cihaz kategorisi
Bu kategoride 4 cihaz bulunuyor. Her birinin teknik özellikleri ve sunduğu hizmetler kendi sayfasında listelenir.
Evet. Analiz talebi oluşturduğunuzda numunenize uygun yöntemi ve cihazı birlikte belirleriz.
İlgili hizmet sayfalarında liste fiyatları yer alır; bunlar referanstır. Numune sayısı ve ek taleplere göre değişebilir, kesin fiyat teklifle paylaşılır.
Numunenizi ve sorunuzu anlatın. Bilim insanlarımız uygulanabilirliği teyit edip bir ölçüm planı önerir.