İçeriğe atla
Bir Nanografi Nano Teknoloji kuruluşuNanografi [email protected]
Giriş
Analiz talebi

Mikroskopi ve görüntüleme

ZEISS EVO 10 Taramalı Elektron Mikroskobu ve Oxford EDS Dedektörü

Nanometre ölçeğinde yüzey morfolojisi görüntüleme ve EDS ile eş zamanlı elementel bileşim haritalama.

Laboratuvar ortamında taramalı elektron mikroskobu
Fotoğraf: Tadeáš Bednarz, Wikimedia Commons, CC BY-SA 4.0
Hizmette
ISO 16700
ASTM E1508
ISO 22309

Kısaca

Nanometre ölçeğinde yüzey morfolojisi görüntüleme ve EDS ile eş zamanlı elementel bileşim haritalama. ZEISS EVO 10, tungsten filamentli, yüksek vakum ve değişken basınç modlarında çalışabilen çok amaçlı bir taramalı elektron mikroskobudur. İletken olmayan polimer, seramik ve biyolojik numuneler kaplama gerektirmeden değişken basınç modunda incelenebilir.

Elektron kaynağı
Tungsten filament
Hızlandırma gerilimi
0,2 – 30 kV
Çözünürlük
3 nm @ 30 kV (SE)

Bu cihazla sunulan hizmetler

Fiyatlar yol göstericidir, ek taleplerinize göre değişiklik gösterebilir. Ekibimiz sizinle iletişime geçerek kapsamı ve net fiyatı netleştirecektir.

Genel bakış

ZEISS EVO 10, tungsten filamentli, yüksek vakum ve değişken basınç modlarında çalışabilen çok amaçlı bir taramalı elektron mikroskobudur. İletken olmayan polimer, seramik ve biyolojik numuneler kaplama gerektirmeden değişken basınç modunda incelenebilir. Entegre Oxford Instruments EDS dedektörü nokta analizi, çizgi taraması ve elementel haritalama ile görüntüleme verisini kimyasal bileşim bilgisiyle tamamlar. Sistem, kalite kontrol, hasar analizi ve Ar-Ge projelerinde tekrarlanabilir ve izlenebilir sonuç üretecek şekilde yapılandırılmıştır.

Ölçüm prensibi

Kabiliyetler

  • İkincil elektron (SE) ve geri saçılan elektron (BSE) görüntüleme

  • Değişken basınç modu ile kaplamasız iletken olmayan numune analizi

  • EDS nokta, çizgi ve haritalama analizi (B–U arası elementler)

  • Parçacık boyutu, gözenek ve tabaka kalınlığı ölçümleri

  • Kırık yüzeyi ve hasar analizi raporlaması

Uygun numuneler

  • Metal ve alaşımlar

  • Seramik ve kompozitler

  • Polimer ve kaplamalar

  • Tozlar ve nanomalzemeler

  • Biyolojik ve kurutulmuş numuneler

Teknik özellikler

ZEISS EVO 10 Taramalı Elektron Mikroskobu ve Oxford EDS Dedektörü — Teknik özellikler
Elektron kaynağıTungsten filament
Hızlandırma gerilimi0,2 – 30 kV
Çözünürlük3 nm @ 30 kV (SE)
Büyütme5× – 1.000.000×
Vakum modlarıYüksek vakum / değişken basınç (10–400 Pa)
EDS dedektörüOxford Instruments SDD

Bu cihazla sunulan hizmetler

Fiyatlar yol göstericidir, ek taleplerinize göre değişiklik gösterebilir. Ekibimiz sizinle iletişime geçerek kapsamı ve net fiyatı netleştirecektir.
Üretici
ZEISS
Model
EVO 10 + Oxford Instruments EDS
Katalog no.
19
Referans standartlar
ISO 16700, ASTM E1508, ISO 22309

Hızlı yanıtlar

SEM / EDS: temel bilgiler

ZEISS EVO 10 Taramalı Elektron Mikroskobu ve Oxford EDS Dedektörü ne için kullanılır?

Şunlar için kullanılır: İkincil elektron (SE) ve geri saçılan elektron (BSE) görüntüleme, Değişken basınç modu ile kaplamasız iletken olmayan numune analizi, EDS nokta, çizgi ve haritalama analizi (B–U arası elementler), Parçacık boyutu, gözenek ve tabaka kalınlığı ölçümleri ve Kırık yüzeyi ve hasar analizi raporlaması.

ZEISS EVO 10 Taramalı Elektron Mikroskobu ve Oxford EDS Dedektörü ile hangi numuneler analiz edilebilir?

Uygun numuneler: Metal ve alaşımlar, Seramik ve kompozitler, Polimer ve kaplamalar, Tozlar ve nanomalzemeler ve Biyolojik ve kurutulmuş numuneler.

ZEISS EVO 10 Taramalı Elektron Mikroskobu ve Oxford EDS Dedektörü hangi standartlarla ilişkilidir?

İlgili standartlar: ISO 16700, ASTM E1508 ve ISO 22309.

ZEISS EVO 10 Taramalı Elektron Mikroskobu ve Oxford EDS Dedektörü hangi NAKTEM hizmetlerinde kullanılır?

SEM/EDS Görüntüleme ve Mikroanaliz, Hasar Analizi ve Malzeme Danışmanlığı ve Cihaz Operatör Eğitimi.

Sonuç olarak ne alırım?

Tipik çıktılar: Ölçek çubuğu ve çekim parametreleri içeren SE/BSE görüntüleri (TIFF/PNG), EDS spektrumları, nokta/alan analiz tabloları (ağırlıkça ve atomca %), Elementel haritalar ve çizgi tarama profilleri, Numune hazırlama, kaplama ve ölçüm koşullarını içeren teknik rapor (PDF) ve Talep hâlinde partikül boyutu, kalınlık veya gözenek ölçüm tabloları.

  • Eğitim

    Malzeme Karakterizasyonu Eğitimi Neden Karşılığını Verir?

    Yanlış hazırlanan bir numune, yanlış seçilen bir parametre ya da aşırı yorumlanan bir spektrum, cihazın maliyetinden çok daha pahalıya mal olabilir. Yapılandırılmış karakterizasyon eğitiminin Ar-Ge ve kalite ekiplerine neden somut getiri sağladığını açıklıyoruz.

    27 Ekim 20263 dk okuma

  • Karakterizasyon

    SEM/EDS Numune Hazırlama Rehberi

    Taramalı elektron mikroskobu ve EDS analizinden güvenilir sonuç almak, numunenin cihaza nasıl ulaştığıyla başlar. Montaj, iletken kaplama, yüzey hazırlığı ve sık yapılan hatalar üzerine uygulamalı bir rehber.

    22 Eylül 20264 dk okuma

  • Karakterizasyon

    Partikül Boyutu Analiz Yöntemi Nasıl Seçilir?

    Lazer kırınımı, elektron mikroskobu, dinamik ışık saçılımı ve elek analizi arasında doğru seçimi yapmak için numunenizi, boyut aralığınızı ve sonucu nasıl kullanacağınızı birlikte değerlendiren pratik bir rehber.

    8 Eylül 20264 dk okuma

Bu cihazda analiz talep edin

Numunenizi ve sorunuzu anlatın. Bilim insanlarımız uygulanabilirliği teyit edip bir ölçüm planı önerir.

Analiz talebi oluştur