Kaplama ve ince film teknolojileri
Quorum MiniQS Sıçratma (Sputter) Kaplama Cihazı
SEM görüntüleme öncesi iletken olmayan numunelere nanometre kalınlığında altın, altın-paladyum veya platin iletken kaplama uygulanması.
Kısaca
SEM görüntüleme öncesi iletken olmayan numunelere nanometre kalınlığında altın, altın-paladyum veya platin iletken kaplama uygulanması. Quorum MiniQS, düşük basınçlı argon plazması içinde magnetron hedefinden koparılan metal atomlarının numune yüzeyinde ince ve sürekli bir film oluşturduğu kompakt bir sıçratma (sputter) kaplama cihazıdır.
- Kaplama prensibi
- DC magnetron sıçratma
- Hedef malzemeler
- Au, Au/Pd, Pt
- Proses gazı
- Argon
Bu cihazla sunulan hizmetler
SEM/EDS Görüntüleme ve Mikroanaliz
başlangıç €1703–7 iş günüBu hizmeti talep etHizmet ayrıntılarıCihaz Operatör Eğitimi
başlangıç €42014–30 iş günüBu hizmeti talep etHizmet ayrıntıları
Genel bakış
Quorum MiniQS, düşük basınçlı argon plazması içinde magnetron hedefinden koparılan metal atomlarının numune yüzeyinde ince ve sürekli bir film oluşturduğu kompakt bir sıçratma (sputter) kaplama cihazıdır. Altın, altın-paladyum ve platin hedefler ile polimer, seramik, biyolojik ve toz numuneler taramalı elektron mikroskobu (SEM) öncesi iletken hâle getirilir; bu sayede şarjlanma önlenir, ikincil elektron verimi artar ve yüksek büyütmede görüntü kalitesi korunur. Kaplama kalınlığı sıçratma akımı ve süre ile denetlenir; döner numune tablası karmaşık geometrilerde homojen kaplama sağlar. Cihaz SEM numune hazırlığının yanı sıra ince film araştırmaları için metal elektrot katmanlarının biriktirilmesi, dört nokta prob ölçümleri için iletken kontak oluşturulması ve kaplama kalınlığı-direnç ilişkilerinin incelenmesinde de kullanılır. Küçük ayak izi ve hızlı pompalama süresi ile mikroskopi laboratuvarında yüksek numune devri sağlar.
Ölçüm prensibi
Kabiliyetler
Au, Au/Pd ve Pt hedefler ile iletken kaplama
Akım ve süre ile kontrol edilen nanometre mertebesinde film kalınlığı
Döner tabla ile karmaşık yüzeylerde homojen kaplama
SEM öncesi şarjlanmayı önleyen numune hazırlığı
İnce film ve elektriksel ölçümler için metal elektrot biriktirme
Hızlı pompalama ile kısa döngü süresi
Uygun numuneler
Polimer ve kompozit SEM numuneleri
Seramik ve cam yüzeyler
Biyolojik ve kurutulmuş dokular
Toz ve nanomalzeme numuneleri
Silisyum ve cam alt taşlar
Kâğıt, tekstil ve membranlar
Teknik özellikler
| Kaplama prensibi | DC magnetron sıçratma |
|---|---|
| Hedef malzemeler | Au, Au/Pd, Pt |
| Proses gazı | Argon |
| Kalınlık kontrolü | Sıçratma akımı ve süre |
| Tipik film kalınlığı | Birkaç nanometreden onlarca nanometreye |
| Numune tablası | Döner, çoklu SEM stub kapasiteli |
Bu cihazla sunulan hizmetler
SEM/EDS Görüntüleme ve Mikroanaliz
başlangıç €1703–7 iş günüBu hizmeti talep etHizmet ayrıntılarıCihaz Operatör Eğitimi
başlangıç €42014–30 iş günüBu hizmeti talep etHizmet ayrıntıları
- Üretici
- Quorum
- Model
- MiniQS
- Katalog no.
- 20
Hızlı yanıtlar
Sputter Kaplama: temel bilgiler
Quorum MiniQS Sıçratma (Sputter) Kaplama Cihazı ne için kullanılır?
Şunlar için kullanılır: Au, Au/Pd ve Pt hedefler ile iletken kaplama, Akım ve süre ile kontrol edilen nanometre mertebesinde film kalınlığı, Döner tabla ile karmaşık yüzeylerde homojen kaplama, SEM öncesi şarjlanmayı önleyen numune hazırlığı, İnce film ve elektriksel ölçümler için metal elektrot biriktirme ve Hızlı pompalama ile kısa döngü süresi.
Quorum MiniQS Sıçratma (Sputter) Kaplama Cihazı ile hangi numuneler analiz edilebilir?
Uygun numuneler: Polimer ve kompozit SEM numuneleri, Seramik ve cam yüzeyler, Biyolojik ve kurutulmuş dokular, Toz ve nanomalzeme numuneleri, Silisyum ve cam alt taşlar ve Kâğıt, tekstil ve membranlar.
Quorum MiniQS Sıçratma (Sputter) Kaplama Cihazı hangi NAKTEM hizmetlerinde kullanılır?
SEM/EDS Görüntüleme ve Mikroanaliz ve Cihaz Operatör Eğitimi.
Sonuç olarak ne alırım?
Tipik çıktılar: Ölçek çubuğu ve çekim parametreleri içeren SE/BSE görüntüleri (TIFF/PNG), EDS spektrumları, nokta/alan analiz tabloları (ağırlıkça ve atomca %), Elementel haritalar ve çizgi tarama profilleri, Numune hazırlama, kaplama ve ölçüm koşullarını içeren teknik rapor (PDF) ve Talep hâlinde partikül boyutu, kalınlık veya gözenek ölçüm tabloları.
İlgili hizmetler
Analiz
SEM/EDS Görüntüleme ve Mikroanaliz
Taramalı elektron mikroskobu ile yüksek çözünürlüklü yüzey görüntüleme ve EDS ile nokta, çizgi ve haritalama bazlı elementel bileşim analizi.
Eğitim
Cihaz Operatör Eğitimi
SEM/EDS, XRD, Raman ve reometre başta olmak üzere analitik cihazlarda uygulamalı operatör eğitimi; numune hazırlama, ölçüm ve veri yorumlama.
İlgili cihazlar
Mikroskopi ve görüntüleme
ZEISS EVO 10 Taramalı Elektron Mikroskobu ve Oxford EDS Dedektörü
Nanometre ölçeğinde yüzey morfolojisi görüntüleme ve EDS ile eş zamanlı elementel bileşim haritalama.
Elektrokimyasal ve elektriksel karakterizasyon
Ossila P2010A2 Dört Nokta Prob Yüzey Direnci Ölçüm Sistemi
İnce film, kaplama ve yarı iletken plakaların yüzey direnci, özdirenci ve iletkenliğinin temas direncinden bağımsız dört nokta yöntemiyle ölçümü.
Kaplama ve ince film teknolojileri
Laurell WS-650Mz-23NPPB Programlanabilir Döndürerek Kaplama Cihazı (Spin Coater)
Çözeltiden polimer, sol-jel ve nanomalzeme ince filmlerinin düz altlıklar üzerine kontrollü kalınlıkta ve homojen biçimde döndürerek kaplanması.
Kaplama ve ince film teknolojileri
DeFelsko PosiTector 6000 Kaplama Kalınlığı Ölçüm Cihazı
Manyetik ve girdap akımı prensipleriyle metal alt taşlar üzerindeki boya, kaplama ve ince film kalınlığının tahribatsız ölçümü.
İlgili yazılar
Karakterizasyon
SEM/EDS Numune Hazırlama Rehberi
Taramalı elektron mikroskobu ve EDS analizinden güvenilir sonuç almak, numunenin cihaza nasıl ulaştığıyla başlar. Montaj, iletken kaplama, yüzey hazırlığı ve sık yapılan hatalar üzerine uygulamalı bir rehber.
22 Eylül 20264 dk okuma
Bu cihazda analiz talep edin
Numunenizi ve sorunuzu anlatın. Bilim insanlarımız uygulanabilirliği teyit edip bir ölçüm planı önerir.
