İçeriğe atla
Bir Nanografi Nano Teknoloji kuruluşuNanografi [email protected]
Giriş
Analiz talebi

Spektroskopi ve kırınım

Anton Paar XRDynamic 500 X-Işını Difraktometresi (XRD)

Toz ve katı malzemelerde kristal faz tanımlama, nicel faz analizi, kristalit boyutu ve ortam dışı koşullarda yapısal değişimlerin izlenmesi.

Gonyometre ve numune tablası görünen X-ışını difraktometresi
Fotoğraf: Sufangxi, Wikimedia Commons, CC BY-SA 4.0
Hizmette
EN 13925-1
EN 13925-2
ASTM E915

Kısaca

Toz ve katı malzemelerde kristal faz tanımlama, nicel faz analizi, kristalit boyutu ve ortam dışı koşullarda yapısal değişimlerin izlenmesi. Anton Paar XRDynamic 500, tam otomatik gonyometre ve optik bileşen tanıma özelliğine sahip çok amaçlı bir toz X-ışını difraktometresidir. Ortam dışı numune odaları ile sıcaklık, atmosfer ve nem altında faz dönüşümleri, ısıl genleşme ve reaksiyon kinetiği yerinde (in situ) izlenebilir.

Gonyometre
Tam otomatik, ayarlanabilir yarıçap
Ölçüm geometrileri
Bragg-Brentano ve paralel demet
X-ışını kaynağı
Kapalı tüp, Cu anot

Bu cihazla sunulan hizmetler

Fiyatlar yol göstericidir, ek taleplerinize göre değişiklik gösterebilir. Ekibimiz sizinle iletişime geçerek kapsamı ve net fiyatı netleştirecektir.

Genel bakış

Anton Paar XRDynamic 500, tam otomatik gonyometre ve optik bileşen tanıma özelliğine sahip çok amaçlı bir toz X-ışını difraktometresidir. Bragg-Brentano ve paralel demet geometrileri arasında hizalama gerektirmeden geçiş yapılabilir; ayarlanabilir gonyometre yarıçapı yüksek çözünürlük ile yüksek şiddet arasında denge kurulmasına olanak verir. Difraksiyon desenlerinden faz tanımlama, Rietveld yöntemiyle nicel faz analizi, kristalit boyutu ve mikro gerinim, kristallik derecesi, kafes parametreleri ve tercihli yönelim bilgisi elde edilir. Ortam dışı numune odaları ile sıcaklık, atmosfer ve nem altında faz dönüşümleri, ısıl genleşme ve reaksiyon kinetiği yerinde (in situ) izlenebilir. Sistem seramik, çimento, mineral, metal ve alaşım, pil ve katalizör malzemeleri, ilaç polimorfları ve ince filmlerin karakterizasyonunda kullanılır; kalite kontrol, ham madde doğrulama ve akademik araştırmalar için izlenebilir sonuç üretir.

Ölçüm prensibi

Kabiliyetler

  • Toz difraksiyonu ile kristal faz tanımlama

  • Rietveld arıtımı ile nicel faz analizi

  • Scherrer ve Williamson-Hall ile kristalit boyutu ve mikro gerinim

  • Kristallik derecesi ve kafes parametresi tayini

  • Sıcaklık ve atmosfer kontrollü in situ ölçümler

  • Bragg-Brentano ve paralel demet geometrileri ile ince film analizi

Uygun numuneler

  • Seramik, çimento ve mineral tozları

  • Metal ve alaşımlar

  • Pil ve katalizör malzemeleri

  • İlaç etken maddeleri ve polimorflar

  • Nanomalzemeler ve ince filmler

  • Polimerler ve yarı kristalin malzemeler

Teknik özellikler

Anton Paar XRDynamic 500 X-Işını Difraktometresi (XRD) — Teknik özellikler
GonyometreTam otomatik, ayarlanabilir yarıçap
Ölçüm geometrileriBragg-Brentano ve paralel demet
X-ışını kaynağıKapalı tüp, Cu anot
Optik bileşenlerOtomatik tanımalı, hizalama gerektirmeyen değişim
Numune tablalarıÇoklu numune değiştirici ve ortam dışı odalar
Veri değerlendirmeFaz arama-eşleştirme, Rietveld arıtımı

Bu cihazla sunulan hizmetler

Fiyatlar yol göstericidir, ek taleplerinize göre değişiklik gösterebilir. Ekibimiz sizinle iletişime geçerek kapsamı ve net fiyatı netleştirecektir.
Üretici
Anton Paar
Model
XRDynamic 500
Katalog no.
21
Referans standartlar
EN 13925-1, EN 13925-2, ASTM E915

Hızlı yanıtlar

XRD: temel bilgiler

Anton Paar XRDynamic 500 X-Işını Difraktometresi (XRD) ne için kullanılır?

Şunlar için kullanılır: Toz difraksiyonu ile kristal faz tanımlama, Rietveld arıtımı ile nicel faz analizi, Scherrer ve Williamson-Hall ile kristalit boyutu ve mikro gerinim, Kristallik derecesi ve kafes parametresi tayini, Sıcaklık ve atmosfer kontrollü in situ ölçümler ve Bragg-Brentano ve paralel demet geometrileri ile ince film analizi.

Anton Paar XRDynamic 500 X-Işını Difraktometresi (XRD) ile hangi numuneler analiz edilebilir?

Uygun numuneler: Seramik, çimento ve mineral tozları, Metal ve alaşımlar, Pil ve katalizör malzemeleri, İlaç etken maddeleri ve polimorflar, Nanomalzemeler ve ince filmler ve Polimerler ve yarı kristalin malzemeler.

Anton Paar XRDynamic 500 X-Işını Difraktometresi (XRD) hangi standartlarla ilişkilidir?

İlgili standartlar: EN 13925-1, EN 13925-2 ve ASTM E915.

Anton Paar XRDynamic 500 X-Işını Difraktometresi (XRD) hangi NAKTEM hizmetlerinde kullanılır?

XRD Faz Analizi ve Cihaz Operatör Eğitimi.

Sonuç olarak ne alırım?

Tipik çıktılar: Faz eşleşmeleri işaretlenmiş kırınım desenleri (2θ–şiddet) ve pik listesi, Tanımlanan fazlar için ICDD PDF kart numaraları ve kantitatif faz oranları, Kristalit boyutu, mikro gerinim ve kristalinite yüzdesi (talep hâlinde), Işın kaynağı, optik, tarama aralığı ve adım süresi bilgilerini içeren yöntem özeti ve Ham veri (XRDML/CSV) ve PDF rapor.

  • Eğitim

    Malzeme Karakterizasyonu Eğitimi Neden Karşılığını Verir?

    Yanlış hazırlanan bir numune, yanlış seçilen bir parametre ya da aşırı yorumlanan bir spektrum, cihazın maliyetinden çok daha pahalıya mal olabilir. Yapılandırılmış karakterizasyon eğitiminin Ar-Ge ve kalite ekiplerine neden somut getiri sağladığını açıklıyoruz.

    27 Ekim 20263 dk okuma

Bu cihazda analiz talep edin

Numunenizi ve sorunuzu anlatın. Bilim insanlarımız uygulanabilirliği teyit edip bir ölçüm planı önerir.

Analiz talebi oluştur