İçeriğe atla
Bir Nanografi Nano Teknoloji kuruluşuNanografi [email protected]
Giriş
Analiz talebi

Spektroskopi ve kırınım

Olympus BX43F Tabanlı Konfokal Mikro-Raman Spektroskopi Sistemi

Mikrometre ölçeğinde kimyasal ve yapısal tanımlama için lazer uyarımlı mikro-Raman spektroskopisi; karbon malzemeler, polimerler ve mineraller için faz ve kusur analizi.

Raman spektrometresine bağlı dik araştırma mikroskobu
Fotoğraf: Sonjajnos, Wikimedia Commons, CC BY-SA 4.0
Hizmette
ASTM E1840
ASTM E2529

Kısaca

Mikrometre ölçeğinde kimyasal ve yapısal tanımlama için lazer uyarımlı mikro-Raman spektroskopisi; karbon malzemeler, polimerler ve mineraller için faz ve kusur analizi. Sistem, Olympus BX43F dik araştırma mikroskobu gövdesine bağlı bir Raman spektrometresinden oluşur ve odaklanmış lazer uyarımı ile numuneden gelen inelastik saçılan ışığı toplayarak titreşim spektrumu üretir.

Mikroskop gövdesi
Olympus BX43F dik araştırma mikroskobu
Uyarım
Görünür bölge lazer uyarımı
Ölçüm modları
Nokta spektrumu, çizgi taraması, alan haritalama, derinlik profili

Bu cihazla sunulan hizmetler

Fiyatlar yol göstericidir, ek taleplerinize göre değişiklik gösterebilir. Ekibimiz sizinle iletişime geçerek kapsamı ve net fiyatı netleştirecektir.

Genel bakış

Sistem, Olympus BX43F dik araştırma mikroskobu gövdesine bağlı bir Raman spektrometresinden oluşur ve odaklanmış lazer uyarımı ile numuneden gelen inelastik saçılan ışığı toplayarak titreşim spektrumu üretir. Raman kaymaları (Raman shift) molekül bağlarına, kristal fazlarına, gerinime ve kusur yoğunluğuna doğrudan duyarlı olduğundan, yöntem numune hazırlığı gerektirmeden ve tahribatsız olarak kimyasal tanımlama sağlar. Mikroskop objektifleri mikrometre altı lateral çözünürlükte nokta analizi, çizgi taraması ve Raman haritalama olanağı sunar; konfokal optik ise ince film ve katmanlı yapılarda derinlik ayrımı sağlar. Grafen ve karbon nanotüplerde D/G/2D bant analizi, polimerlerde kristalinite ve bileşen tanımlama, minerallerde faz ayrımı ve farmasötik polimorf tayini başlıca uygulama alanlarıdır. Çıktılar spektral kütüphane eşleştirmesi, pik parametreleri ve haritalar olarak raporlanır.

Ölçüm prensibi

Kabiliyetler

  • Nokta, çizgi ve alan taraması ile Raman haritalama

  • Grafen, CNT ve karbon malzemelerde D/G/2D bant ve kusur analizi

  • Polimerlerde kristalinite, oryantasyon ve bileşen tanımlama

  • Mineral ve seramiklerde faz ayrımı ve polimorf tayini

  • Konfokal derinlik profilleme ile katmanlı yapı analizi

  • Spektral kütüphane eşleştirmesi ve pik parametre raporlaması

Uygun numuneler

  • Grafen, karbon nanotüp ve karbon tozları

  • Polimer film, lif ve kompozitler

  • Mineral, seramik ve cam numuneler

  • İnce film ve kaplamalar

  • Farmasötik katı formlar

  • Yarı iletken ve 2B malzemeler

Teknik özellikler

Olympus BX43F Tabanlı Konfokal Mikro-Raman Spektroskopi Sistemi — Teknik özellikler
Mikroskop gövdesiOlympus BX43F dik araştırma mikroskobu
UyarımGörünür bölge lazer uyarımı
Ölçüm modlarıNokta spektrumu, çizgi taraması, alan haritalama, derinlik profili
Lateral çözünürlükYüksek büyütmeli objektiflerle mikrometre altı
Numune hazırlığıGerekmez; tahribatsız ve temassız ölçüm
Veri çıktısıSpektrumlar, pik tabloları, haritalar, kütüphane eşleşmeleri

Bu cihazla sunulan hizmetler

Fiyatlar yol göstericidir, ek taleplerinize göre değişiklik gösterebilir. Ekibimiz sizinle iletişime geçerek kapsamı ve net fiyatı netleştirecektir.
Üretici
Olympus
Model
BX43F
Katalog no.
2
Referans standartlar
ASTM E1840, ASTM E2529

Hızlı yanıtlar

Raman: temel bilgiler

Olympus BX43F Tabanlı Konfokal Mikro-Raman Spektroskopi Sistemi ne için kullanılır?

Şunlar için kullanılır: Nokta, çizgi ve alan taraması ile Raman haritalama, Grafen, CNT ve karbon malzemelerde D/G/2D bant ve kusur analizi, Polimerlerde kristalinite, oryantasyon ve bileşen tanımlama, Mineral ve seramiklerde faz ayrımı ve polimorf tayini, Konfokal derinlik profilleme ile katmanlı yapı analizi ve Spektral kütüphane eşleştirmesi ve pik parametre raporlaması.

Olympus BX43F Tabanlı Konfokal Mikro-Raman Spektroskopi Sistemi ile hangi numuneler analiz edilebilir?

Uygun numuneler: Grafen, karbon nanotüp ve karbon tozları, Polimer film, lif ve kompozitler, Mineral, seramik ve cam numuneler, İnce film ve kaplamalar, Farmasötik katı formlar ve Yarı iletken ve 2B malzemeler.

Olympus BX43F Tabanlı Konfokal Mikro-Raman Spektroskopi Sistemi hangi standartlarla ilişkilidir?

İlgili standartlar: ASTM E1840 ve ASTM E2529.

Olympus BX43F Tabanlı Konfokal Mikro-Raman Spektroskopi Sistemi hangi NAKTEM hizmetlerinde kullanılır?

Raman Spektroskopisi Analizi ve Cihaz Operatör Eğitimi.

Sonuç olarak ne alırım?

Tipik çıktılar: Taban çizgisi düzeltilmiş Raman spektrumları ve pik konumu/genişliği tabloları, Karbon malzemeler için D/G ve 2D/G oranı değerlendirmesi, Ölçüm noktalarını gösteren optik mikroskop görüntüleri, Lazer dalga boyu, güç, pozlama ve objektif bilgilerini içeren yöntem özeti ve Ham spektrum verisi (CSV/TXT) ve PDF rapor.

  • Karakterizasyon

    FTIR mi Raman mı? Numunenize Hangi Teknik Uygun

    FTIR ve Raman aynı moleküler titreşimleri farklı fiziksel yollarla ölçer. Hangisinin numunenize uygun olduğunu, hazırlık gereksinimlerini ve spektrumun nasıl okunacağını anlatan pratik bir karar rehberi.

    9 Kasım 20266 dk okuma

Bu cihazda analiz talep edin

Numunenizi ve sorunuzu anlatın. Bilim insanlarımız uygulanabilirliği teyit edip bir ölçüm planı önerir.

Analiz talebi oluştur